ZQDR-S瞬態(tài)平面熱源法導熱系數(shù)測定儀

技術參數(shù):

1.測試范圍: 0.001—300W/(m*K)

2.測量溫度范圍: 室溫—130℃

3.探頭直徑: 一號探頭7.5mm；二號探頭15mm

4.精度: ±3%

5.重復性誤差: ≤3%

6.測量時間: 5~160秒

7.電源: AC 220V

8.整機功率: ﹤500w

9.測試樣品功率P： 一號探頭功率0；二號探頭功率0

10.樣品規(guī)格：一號探頭所測單個樣品（≥15*15*3.75mm）；二號探頭所測單個樣品 (≥30*30*7.5mm)

11.定制粉末測試容器一套

ZQDR-S瞬態(tài)平面熱源法導熱系數(shù)測定儀

儀器特點：

1.測試范圍廣泛，測試性能穩(wěn)定，在國內(nèi)同類儀器中，處于優(yōu)先水平；

2.直接測量，測試時間5-160s左右可設置，能快速準確的測出導熱系數(shù)，節(jié)約了大量的時間；

3.不會和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響；

4.無須特別的樣品制備，對樣品形狀并無特殊要求，塊狀固體只需相對平滑的樣品表面并且滿足長寬至少為探頭直徑的兩倍即可；

5.對樣品實行無損檢測，意味著樣品可以重復使用；

6.探頭采用雙螺旋線的結構進行設計，結合專屬數(shù)學模型，利用核心算法對探頭上采集的數(shù)據(jù)進行分析計算；

7.樣品臺的結構設計巧妙，操作方便，適合放置不同厚度的樣品，同時簡潔美觀；

8.探頭上的數(shù)據(jù)采集使用了進口的數(shù)據(jù)采集芯片，該芯片的高分辨率，能使測試結果更加準確可靠；

9.主機的控制系統(tǒng)使用了ARM微處理器，運算速度比傳統(tǒng)的微處理器快，提高了系統(tǒng)的分析處理能力，計算結果更加；

10.儀器可用于塊狀固體、膏狀固體、顆粒狀固體、膠體、液體、粉末、涂層、薄膜、保溫材料等熱物性參數(shù)的測定；

11.智能化的人機界面，彩色液晶屏顯示，觸摸屏控制，操作方便簡潔；

12.強大的數(shù)據(jù)處理能力。高度自動化的計算機數(shù)據(jù)通訊和報告處理系統(tǒng)